Los entornos de fabricación de CMOS están rodeados de síntomas que pueden indicar problemas graves de prueba, diseño o fiabilidad, que, a su vez, pueden afectar tanto el resultado financiero como el técnico. Este libro educa a los lectores, incluidos los no ingenieros involucrados en la fabricación de CMOS, para identificar y remediar estas causas. Este libro inculca el conocimiento electrónico que afecta no solo al diseño, sino también a otras áreas importantes de la fabricación, como la prueba, la fiabilidad, el análisis de fallos, los problemas de calidad de rendimiento y otros problemas. Diseñado específicamente para los muchos ingenieros no electrónicos empleados en la industria de semiconductores que necesitan fabricar chips de manera fiable a alta velocidad y en grandes cantidades, esta es una guía práctica sobre cómo funcionan los electrónicos CMOS, cómo ocurren las fallas y cómo diagnosticarlas y evitarlas.
Características clave:
Construye una comprensión de la electrónica básica de los circuitos integrados CMOS y luego lleva al lector más allá para entender los mecanismos de fallo.
Descripciones únicas de los mecanismos de fallo de circuitos, algunos encontrados anteriormente solo en artículos de investigación y otros nuevos para esta publicación.
Dirigido a la industria CMOS (o estudiantes que se dirigen allí) y no a una introducción genérica al campo más amplio de la electrónica.
Se proporcionan ejemplos, ejercicios y problemas para apoyar la auto-instrucción del lector.

Características destacadas

Modelo de esta publicación

• Formato: Tapa dura

Especificaciones técnicas

• Formato: Tapa dura
• Idioma: Español
• Isbn 10: 0471476692
• Isbn 13: 978-0471476696
• Edición: 1ra
• Editorial: Wiley-IEEE Press
• Fecha de publicación: 18 de marzo de 2004
• Longitud de impresión: 366 páginas
• Peso: 0.81 kg
• Dimensiones: Ancho: 17.78 cm, Alto: 2.59 cm, Profundidad: 25.4 cm